庫爾特納米粒度計(jì)

產(chǎn)品簡介

庫爾特納米粒度計(jì)是一種電學(xué)粒子分析技術(shù)，與基于光散射的普通方法（如動(dòng)態(tài)光散射（DLS）、納米粒子跟蹤分析（NTA）或納米級(jí)流式細(xì)胞術(shù)（nanoFCM））有著根本的不同。微流脈沖電阻庫爾特納米粒度儀采用MRPS技術(shù)，提供了傳統(tǒng)光學(xué)方法無法獲得的全新視角和新見解。MRPS在納米尺度上提供最直接的尺寸和濃度測(cè)量 - 與樣品多分散性或折射率無關(guān)的真實(shí)顆粒尺寸。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-10-20

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

訪問量：741

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

納米粒度儀

庫爾特電學(xué)納米粒度儀 DLS納米粒度檢測(cè)儀

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庫爾特納米粒度計(jì)通過單顆粒熒光對(duì)大小、濃度和貨物進(jìn)行定量。

工作原理：

庫爾特納米粒度計(jì)

Spectradyne的ARCTM顆粒分析儀將MRPS與單顆粒熒光同步測(cè)量相結(jié)合，使各種新科學(xué)成為可能。

庫爾特納米粒度計(jì)儀器特點(diǎn)：

庫爾特納米粒度計(jì)

粒徑：50 nm 至 10 微米

濃度范圍：約 104 — 1012 顆粒/mL

激發(fā)激光波長：488nm

對(duì)單個(gè)顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和大小

高分辨率尺寸分布

最大顆粒物檢測(cè)率：約 10,000 個(gè)顆粒/秒

可以測(cè)量任何材料類型（透明和不透明，導(dǎo)電和絕緣）

臺(tái)面占地面積小

可選多種規(guī)格芯片：

庫爾特納米粒度計(jì)

應(yīng)用領(lǐng)域：

庫爾特納米粒度計(jì)

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